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扫描探针显微镜

扫描探针显微镜
  • 日本精工公司
  • SPA400型
  • 田云飞 刘岁林
  • 028-85412854

仪器功能和附件

扫描探针显微镜主要包括原子力显微镜(AFM),动态力模式(DFM),磁力显微镜,粘弹性AFM,粘弹性DFM等。  

仪器使用范围

无机物、高分子等及生物学表面,材料纳米尺度的观测,颗粒形状、尺寸及粒径的分布;力学及其他:材料表面光洁度测定,磁场、摩擦力、静电场、粘弹性等特性的测试。