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场发射透射电子显微镜(TEM)

  • 日本电子
  • JEM-2100Plus
  • 王珊玲
  • 028-85411859

主要性能指标

加速电压:20-200kV

点分辨率:0.23nm;线分辨率:0.14nm

束斑最小尺寸(TEM模式):20nm

相机常数:80-2000nm

TEM放大倍数:2000-1500000x

仪器功能

该电镜完全数字化,直接由一台计算机控制。分析系统完整,稳定,灵活。多用户界面、控制板面、各个功能模式能灵活切换。该仪器能采集TEM明场、暗场像和高分辨像,能进行选区电子衍射和汇聚束衍射。本中心的透射电子显微镜实验室还配备了一整套相关的制样设备,包括GATAN离子减薄仪、LEICA冰冻超薄切片机、磁力双喷电解减薄器和凹坑仪等,可以进行生物、高分子材料以及金属等样品的透射电子显微镜制样工作。

仪器应用范围

广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学,金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域。是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的工具。