主要性能指标

加速电压: 30 ~300 kV；

TEM信息分辨率：60 pm@300Kv；

STEM分辨率：50pm@300Kv；

电子束最大会聚角:±20°；

远程操作,自动光阑系统；

电子枪: FEG,能量分辨率0.3eV；

TEM放大倍数: 60 ~ 1000kx；

样品最大倾角:±40°；

一体化能谱仪和CCD相机

仪器功能和附件

该仪器配备STEM、EDX,、EELS等多种附件，可采集TEM明场、暗场像和高分辨像，进行选区电子衍射和汇聚束衍射，可在STEM模式下进行EDX、EELS能谱分析和STEM原子像的分析。

仪器使用范围

广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学，金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域。是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的工具。