作为党史学习教育活动的重要组成部分，分析测试中心“分析测试技术及学术交流”系列讲座于3月26日上午开讲。第一讲题为“双束扫描电镜（FIB-SEM）在材料研究中的应用”，主讲人为中心党员示范岗、扫描电镜组组长王辉同志。来自校内外同行及师生共计40余人参加了此次讲座。

双束扫描电子显微电镜（FIB-SEM）作为材料及相关领域的一个重要表征观察工具，可以实现通过SEM实时观测FIB微加工过程，集电子束高空间分辨率和离子束精细加工优势于一身。FIB系统强大的精细加工和微观分析能力，能够为材料及相关领域的科学研究提供更高水平的研究型分析测试服务。

本次讲座的开设为全校相关学科专业的师生直观了解FIB-SEM的工作原理和应用范围提供了一次近距离交流机会，同时也是中心在2021年度通过学习党史，号召全体党员干部做到学史力行，更好地为群众办实事的一次有益尝试。