主要性能指标:
热释光三维光谱；热释光发光曲线；光释光三维光谱；光释光发光曲线；辐射发光光谱测量；余辉衰减光谱测量；余辉衰减曲线测量；X射线荧光谱测量。
仪器功能和附件:
1、配置紫外可见CCD探测器波长测量范围不窄于350-1000 nm；
2、IFC PMT探测器光谱响应范围不窄于300-650 nm；
3、单光子PMT探测器光谱响应范围不窄于300-650 nm；
4、低/高温线性加热器温度测量范围不窄于：80K-773K。
主要应用范围:
多功能缺陷荧光光谱仪是是一种用于化学、材料科学、物理学领域的固体发光材料三维光谱测量装置。
